基于应力－强度干涉理论的电子设备结构可靠性设计研究
黄诚
（中国电子科技集团公司 第十研究所，四川 成都 610036）
摘要：电子设备功能日趋复杂，其可靠性指标被广泛关注。特殊环境条件下，产品的结构可靠性也应被重点关注。对依据经典应力－强度理论，对结构可靠性设计方法开展研究，提出了结构可靠性设计的主要流程，以及在基于应力、强度标准正态分布情况下，给出了具体的可靠度定量计算方法，并通过具体案例进行演算。对电子产品开展结构可靠性预计等相关工作的开展具有一定的参考价值。
关键词：应力－强度干涉；电子设备；结构设计；可靠性
中图分类号：TN103 文献标志码：A doi：10.3969/j.issn.1006-0316.2015.11.017
文章编号：1006－0316 (2015) 11－0061－03
Research of electronic equipment structure reliability design based on the stress-strength interference theory
HUANG Cheng
( The 10th Research Institute, CETC, Chengdu 610036, China )
Abstract：Electronic equipment function has become increasingly complex, and the Reliability index is widely concerned. Under the special environment condition, it should be focused on the structure reliability of the product. In this paper, based on the classical stress-strength interference theory, studies on the structural reliability design method. Structure reliability design of the main processes are presented, and based on the stress, strength standard fall cases, gives the specific method of quantitative calculation of reliability and calculus through concrete cases. Electronic products for structural reliability can be reference in design.
Key words：stress-strength interference；electronic equipment；structure design；reliability
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收稿日期：2015－04－20
作者简介：黄诚（1982－），男，四川内江人，工程师，主要从事航空电子设备结构设计工作。
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